时间：2019年 9月20-22日 地点：四川 成都 参会人员：刘寅贺、王俊珏
2019年 9月20至22日，高分·智绘中国”第六届高分辨率对地观测学术年会在成都电子科技大学召开。本届年会由高分辨率对地观测系统专项管理办公室、中国科学院重大科技任务局、中国航天科技集团有限公司、中国航天科工集团有限公司、中国电子科技集团有限公司、中国航空工业集团有限公司、中国兵器工业集团有限公司指导，高分辨率对地观测学术联盟主办，由电子科技大学、中国科学院光电技术研究所、中国电子科技集团公司第二十九研究所、航空工业成都飞机设计研究所、中国兵器工业集团北方激光研究院有限公司等单位承办。作为遥感对地观测领域的顶级学术会议，代表着我国对地观测领域技术交流的最高水准，共有来自国内高校、科研院所、企事业单位的1500余名代表参会。
本着“展示成就、探讨未来、推动应用、互融互通”的办会原则，此次年会以“高分·智绘中国”为主题，围绕如何支撑高分辨率对地观测领域的国家科技重大专项建设，瞄准高分数据资源共享与成果推广应用，关注对地观测领域的挑战、核心技术创新和产业化发展等，邀请国内领域内资深专家学者进行学术交流及成果展示。包括吴一戎院士、王建宇院士、龚健雅院士在内的十余位学者向大会作特邀报告，共同交流高分辨率对地观测领域取得的最新研究成果，提出后续发展建议与思考。
会议期间，与会专家围绕“高分专项”主题，展开了高分专项成果发布，论文及技术竞赛颁奖，大会特邀报告、分会/论坛报告等环节。其中分会场涵盖各个“高分专项”领域，包括：对地观测新概念与前沿技术分会、系统平台与总体技术分会、先进载荷技术分会、高性能处理技术分会、商业航天背景下的高分产业应用与发展论坛、遥感导航应用技术论坛、知识产权及标准化论坛。共选出青年创新基金论文14篇，优秀论文28篇。本次论坛为全国高分辨率对地观测技术的交流提供了平台，促进了航空航天“军民融合”的发展。
我组硕士一年级学生刘寅贺、王俊珏参加了论坛，并进行了交流与总结汇报。
|
